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材料科学—米乐m6网页版登录入口材料电学特性参数测试方案
释放新材料的潜力
米乐m6网页版登录入口及旗下吉时利品牌,提供各类材料电参数测试方案,包括:
- 电输运特性测试,量子材料、超导材料、半金属材料、异质结构材料,物性表征测试方案
- 新一代高速存储单元及类脑计算、神经元网络测试方案:
- 相变材料及器件电学表征测试方案
- 忆阻器单元基础研究测试方案
- 忆阻器单元性能研究测试方案
- 低维神经元网络阵列测试方案
- 三端器件节点神经元网络阵列测试方案
- 神经元网络阵列测试方案
- 铁电材料及铁电电子器件电学表征
- 自旋电子学 - 电输运表征及器件测试
- 微机电系统MEMS 测试方案
- 宽禁带半导体材料及功率半导体器件测试方案
- 碳基半导体材料及电子器件测试方案
- 基于FET 结构的生物传感器(BioFET) 测试方案
- 有机半导体材料及有机电子器件电性能测试方案
- 柔性半导体材料及电子器件电性能测试方案
- 薄膜类及表面材料的电阻率测试方案
- 绝缘材料电性能表征测试方案
材料测试平台主要提供材料电学特性的测试方案。电学特性是许多材料研究的重点,常见的测试参数:
- 包括电阻率,方阻,载流子浓度,载流子迁移率等
- 常用的测试方法是四探针法,范德瓦尔堡法,霍尔效应。
半导体材料与器件科学云讲堂
帮助您理解新一代半导体材料的特性和实际应用,以及其测试痛点
实际半导体材料的特性及实际应用:
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如何测量 MOSFET 栅极电荷
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如何进行晶圆级可靠性测试
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二维材料/石墨烯及其电子器件IV和CV测试:
直播回放 讲义下载
测试技巧:
特色内容
推荐设备
2600 PCT高功率器件参数曲线追踪仪
支持高压、高流等条件下直流特性IV曲线、电容电压特性CV曲线测试。
4200A-SCS 参数分析仪
用于测试分离器件、材料的直流特性(IV/IT/VT/RT曲线),电容电压特性CV曲线和脉冲特性测试(PMU),支持超高速脉冲测试。
AWG70000B任意波形发生器
产生ps级脉冲,进行材料的高速性能测试。
Library
Title |
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利用不同传导测试方法进行纳米材料的特性分析(英文3页)
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霍尔效应测试系统(中文6页)
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漏电流与绝缘阻测量
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DC I-V Characterization of FET-Based Biosesensors Using the 4200A-SCS Parameter Analyzer
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Making High Resistance Measurements on Small Crystals in Inert Gas or High Vacuum w/ the Model 6517A
Introduction
Crystalline materials are fundamental to modern electronics and optoelectronics. Therefore, the electrical properties of these materials, such as their (anisotropic) …
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用 2450 型数字源表与四探针进行电阻测量
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利用4200-SCS进行四探头电阻与霍尔电压测试
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利用4200-SCS型参数分析仪,对碳纳米管晶体管(CNT FET)进行电气特性分析
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使用Model 2450-EC 或2460-EC 电化学实验室系统执行循环伏安测量
化学工程师、化学家和其他科学家都使用电测量技术,研究化学反应和态势。循环伏安测量 (CV) 是一种电位扫描方法,也是最常用的测量技术。CV 以线性方式扫描电极电位随时间变化,测量流经电路的电流,其一般是3 电极电化学电池。得到的I-V 数据提供了与被分析物有关的重要电化学特点。 本应用指南介绍了使用2450-EC 或2460-EC 电化学实验室系统 …
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Title |
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Road to Ignition: Improving Pulse Shaping at NIF
In December of 2022, the National Ignition Facility (NIF), a fusion research center located within the DOE’s Lawrence Livermore National Laboratory (LLNL), achieved humanity’s first controlled fusion …
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Sensors and Semiconductors Testing Materials for Tomorrows Smart Devices
Listen to our panel discuss three measurement applications where the properties of new materials have influenced how measurements are made.
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Use Hall Effect Measurements for the Characterization of New and Existing Materials
The webinar covers semiconductor and other material characterization using Hall Effect and van der Pauw measurements for calculating sample resistivity and mobility among other parameters as well as …
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Tips and Techniques to Simplify MOSFET-MOSCAP Device Characterization
This webinar presents a new process that makes characterization and parameter extraction easier and quicker. We'll be discussing the extraction of common parameters as well as which tests to run to …
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